深圳市艾兰特诚邀您参观深圳半导体科技展览会

2019-06-04

艾兰特科技   1号馆C19展位

      由中国通信工业协会、中瑞会展有限公司、中国通信工业协会柔性制造分会共同主办的深圳国际半导体展览会,于2019.6.14-16日在深圳会展中心1/6号馆举办。届时,深圳市艾兰特科技有限公司会在1号馆C19展位展出适用于各种半导体封装缺陷的检测设备,在此诚邀您莅临参观、洽谈!


HT100L

半导体在线X-ray检测设备-HT100L     

      HT100L有免维护的密封管型微焦点X射线管,使用寿命长,保养费用低;高分辨能力,最小可检测出2um的缺陷;可以进行2点的距离测量,线与线之间的角度,弧度的测量自动进行计算;LED封装气泡率的测定:界限值设定完之后,根据自动计算,可将合格与不合格的产品辨别出来;探测器旋转检测,即时从垂直方向不容易发现的缺陷部位 ,也可通过切斜透视检查出来;可根据客户的要求、标准定制产品。广泛适用于LED芯片,LED内部邦定线,LED晶线,CSP,flip chip,COB,QFN,QFP等的检测;IC封装,整流桥,电阻,电容等连接件等检测。


HT300L

半导体X射线检测设备-HT300L     

      HT300L是艾兰特为满足客户对X射线检测的需求,推出的一款外形美观、检测区域大、分辨率强、放大倍率高的全新在线式X-Ray检测系统。该系统采用封闭式射线源和平板探测器作为核心部件,具备绝佳的检测效果。适用于半导体、封装元器件、电子连接器模组检测、光伏行业等行业的检测。


HT300

SMT X-ray检测设备-HT300
      HT300满足客户对工件检测的各种运动要求,同时可以根据客户需求,配置100KV光管及CT软件,大容量高分辨率高放大倍率的全新X-ray检测系统,实现三维重建CT功能。自动图像过滤,成像快,效率高,输入角度值自动旋转到需要的角度,精密步进移载定位及旋转机构,检测角度任意调整,保证取图质量及检测精度。适用与PCB板、SMT组装、半导体元件器、IC封装检测。


HT100

SMT X-ray检测设备-HT100
      HT100配置有免费维护的密封管型微焦点X射线管。可配置100千伏,5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率,系统倍数放大可达到1000倍的放大;观察范围可从1.5毫米至50毫米;采用激光笔辅助样品定位;X光管的Z轴可动控制(FOV和放大率控制);X光管探测器的Z轴可动控制(FOV和放大率控制);载物台可作±60°旋转;X光管使用时间的统计可以在菜单上显示;成像画面随鼠标指示位置移动,当鼠标点击成像画面某点位置时,某点位置移动到成像区域中央;鼠标点到之处,鼠标滚轮能实现成像图像的放大、缩小功能。主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测,并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况,特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。

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